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2013-05-23 12:21
求翻译：and the device temperature, but not on the spectrum used to generate the short-circuit current. For these devices, the correction of spectrum mismatch or spectral response mismatch is possible using the following procedure. For other devices, a measurement of the I-V characteristic shall be done using a light source wi是什么意思？ 待解决
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and the device temperature, but not on the spectrum used to generate the short-circuit current. For these devices, the correction of spectrum mismatch or spectral response mismatch is possible using the following procedure. For other devices, a measurement of the I-V characteristic shall be done using a light source wi
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
和设备的温度，而不是用来产生短路电流的频谱。对于这些设备，光谱失配校正或光谱响应不匹配可能使用下列程序。其他设备，IV特性的测量应做适当的频谱使用的光源。
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2013-05-23 12:23:18
和这台设备的温度,但不是在频谱用于生成的短路电流。 对于这些设备,在校正频谱的光谱响应不匹配或不匹配的可能使用以下过程。 对于其他设备,一个测量的i-v特性应使用一个光源频谱与相应。
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2013-05-23 12:24:58
并且设备温度，但不在用于的光谱引起短路潮流。 为这些设备，光谱配错或光谱响应配错的更正是可能的使用以下做法。 为其他设备， I-V特征的测量使用一个光源完成以适当的光谱。
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2013-05-23 12:26:38
与设备温度、 但不是用来生成的谱短路电流。对于这些设备，可以使用以下过程谱不匹配或光谱响应不匹配的校正。对于其他设备，须进行测量的-V 特性光源使用适当的频谱。
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2013-05-23 12:28:18
和设备温度，但是不在范围上常生成使流短路。对这些设备，范围错配或幽灵的答复错配的改正使用以下程序是可能的。对其他设备， I-V 特征的度量法将以适当的范围使用一个光源完成。
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