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2013-05-23 12:21
求翻译：Method for measuring defects in fully depleted silicon on insulator (FDSOI) type silicon substrate that is utilized for realization of electronic, optical and optoelectronic components.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Method for measuring defects in fully depleted silicon on insulator (FDSOI) type silicon substrate that is utilized for realization of electronic, optical and optoelectronic components.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
测定方法的缺陷在完全耗尽绝缘体上硅（FDSOI）型是用于实现电子，光学和光电器件的硅衬底。
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2013-05-23 12:23:18
测量的方法在为电子，光学和光电子组分的认识被运用充分地的被耗尽的绝缘体上硅薄膜(FDSOI)类型硅体背叛。
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2013-05-23 12:24:58
方法为在充分地被耗尽的硅测量瑕疵在 () 为电子，光学和光电子组分的认识被运用的绝缘体FDSOI类型硅体。
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2013-05-23 12:26:38
测量方法完全耗尽绝缘体上硅中缺陷 （FDSOI） 类型硅衬底，用于实现的电子、 光学和光电元器件。
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2013-05-23 12:28:18
测量方法中的缺陷完全耗尽的绝缘硅(fdsoi]类型硅基材,用于实现电子、光学、光学电子零件。
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