|
关注：1
2013-05-23 12:21
求翻译：Method for testing semiconductor substrate for radio frequency applications, involves measuring profile of electric resistivity of substrate as function of depth, where measurement is performed based on criterion defined by specific formula是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Method for testing semiconductor substrate for radio frequency applications, involves measuring profile of electric resistivity of substrate as function of depth, where measurement is performed based on criterion defined by specific formula
问题补充： |
|
2013-05-23 12:21:38
方法对射频测试应用的半导体衬底，包括测量衬底的电阻率分布的深度，在此进行测量的功能的基础上通过特定的公式定义标准
|
|
2013-05-23 12:23:18
测试的半导体基体方法射频应用的，介入测量基体电抵抗力外形作为深度的作用，测量进行根据具体惯例定义的标准
|
|
2013-05-23 12:24:58
方法为测试半导体基体为射频应用，介入测量基体电抵抗力外形作为深度的作用，测量进行根据具体惯例定义的标准
|
|
2013-05-23 12:26:38
方法测试半导体基板的无线电频率的应用程序，涉及到测量电阻率衬底的配置文件，为基于标准由具体的计算公式定义的深度，测量在其中执行的函数
|
|
2013-05-23 12:28:18
测试方法,半导体基板的射频应用,涉及测量电阻率的电功能的基材的深度,测量是根据标准的具体公式定义
|
湖北省互联网违法和不良信息举报平台 | 网上有害信息举报专区 | 电信诈骗举报专区 | 涉历史虚无主义有害信息举报专区 | 涉企侵权举报专区
