当前位置:首页 » 翻译 
  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:Crown width measuring device for multilayer semiconductor wafer, has circular plate mounted on flat support with rotational degree of freedom and translational degree of freedom, where rod extends in direction perpendicular to support是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
Crown width measuring device for multilayer semiconductor wafer, has circular plate mounted on flat support with rotational degree of freedom and translational degree of freedom, where rod extends in direction perpendicular to support
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
冠幅测量装置的多层半导体晶片,已安装在与自由,在那里杆垂直方向延伸,支持自由和平移度旋转度平躺支撑圆板|主文倒拉捷威科德拉largeur德Couronne的D \'UNE结构multicouche
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
加冠多层半导体片的宽度测量设备,有在与旋转的自由程度和平移自由程度的平的支持登上的圆板材,标尺在方向垂线延伸对支持|DISPOSITIF倾吐LA MESURE DE LA LARGEUR DE COURONNE D \\ ‘UNE结构MULTICOUCHE
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
冠宽度测量设备为多层半导体片,有在平的支持登上的圆板材以旋转的自由程度和平移自由程度,标尺在方向垂线延伸对支持 DISPOSITIF倾吐LA MESURE DE LA LARGEUR DE COURONNE D \ ‘UNE结构MULTICOUCHE
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
冠宽度测量装置的多层半导体外延片、 有圆板安装在平支持与旋转自由度和平移自由度的哪里杆延伸的方向垂直,以支持 |主文倾吐 LA 神华煤 DE LA LARGEUR DE 库罗讷 D\'UNE 结构 MULTICOUCHE
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
正在翻译,请等待...
 
 
网站首页

湖北省互联网违法和不良信息举报平台 | 网上有害信息举报专区 | 电信诈骗举报专区 | 涉历史虚无主义有害信息举报专区 | 涉企侵权举报专区

 
关 闭