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  • 匿名
关注：1 2013-05-23 12:21

求翻译：Device for measuring width of a crown of a multilayer structure i.e. multilayer semiconductor wafer, after trimming a transferred layer.是什么意思？

待解决 悬赏分：1 - 离问题结束还有
Device for measuring width of a crown of a multilayer structure i.e. multilayer semiconductor wafer, after trimming a transferred layer.
问题补充：
  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
装置，用于测量宽度的多层结构，即多层半导体晶片的表冠，修整被转移层之后。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
正在翻译，请等待...
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
设备为测量一个多层结构的冠的宽度即。 多层半导体片，在整理转移的层数以后。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
测量宽度的一个多层的王冠装置即结构多层半导体外延片、 后修剪一个传输的层。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
测量宽度的一个官方的一个多层结构(即多层半导体晶片,在铣削一个传输层。
 
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