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2013-05-23 12:21
求翻译:The detector stylus can be accurately positioned on a feature that is difficult to approach, such as a small indentation, by using the QVP-II for initial positioning before switching to the detector for automatic measurement of surface roughness and fine workpiece form.是什么意思? 待解决
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The detector stylus can be accurately positioned on a feature that is difficult to approach, such as a small indentation, by using the QVP-II for initial positioning before switching to the detector for automatic measurement of surface roughness and fine workpiece form.
问题补充: |
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2013-05-23 12:21:38
检测触针可以精确地定位在一个功能,是困难的方法,如一个小的压痕,通过使用QVP - II的初始定位切换到检测器,用于表面粗糙度和精细的工件形状的自动测量之前。
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2013-05-23 12:23:18
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2013-05-23 12:24:58
探测器铁笔在是难接近,例如小凹进,通过使用QVP-II为最初安置在交换对探测器之前为地面粗糙度和美好的制件形式的自动测量的特点可以准确地被安置。
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2013-05-23 12:26:38
探测器触笔可以准确地定位在一种功能,通过使用初始定位在切换到自动测量表面粗糙度和精细工件窗体探测器之前的 QVP II 是困难的方法,例如小的缩进、 上。
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2013-05-23 12:28:18
探测器 stylus 可以在很难接近的一种特征准确地被放置,例如一个小缺口,所作使用对于最初定位的 QVPII 转换到对于表面的粗糙和罚款 workpiece 形式的自动测量的探测器之前。
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