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2013-05-23 12:21
求翻译：As indicated by an arrow in Fig. 2(a), there is an additional layer on the spinel coating. This region is further magnified in Fig. 4(a) after a slight tilt of the TEM sample to enhance the contrast. This additional layer and other isolated particles, as indicated by arrowheads in Fig. 4(a), are identied as the Si phas是什么意思？ 待解决
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As indicated by an arrow in Fig. 2(a), there is an additional layer on the spinel coating. This region is further magnified in Fig. 4(a) after a slight tilt of the TEM sample to enhance the contrast. This additional layer and other isolated particles, as indicated by arrowheads in Fig. 4(a), are identied as the Si phas
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
如由图中的箭头。
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2013-05-23 12:23:18
如表示由在图2 (a)的一个箭头，有在尖晶石涂层的另外的层数。这个地区在图4进一步被扩大化(a)在提高对比的TEM样品的轻微的掀动以后。这另外的层数和其他被隔绝的微粒，如表示由箭头图的4 (a)， identied作为Si阶段，如显示由电子di raction样式在图4 (b)和XEDS光谱在图4 (c)。
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2013-05-23 12:24:58
如由一个箭头表示在。 2( a)，有另外的层数在尖晶石涂层。 这个地区进一步被扩大化在。 4( a) 在提高对比的TEM样品的轻微的掀动以后。 这另外的层数和其他被隔绝的微粒，如由箭头表示在。 4( a)，是identied作为Si阶段，如所示由电子di raction样式在。 4( b) 和XEDS光谱在。 4( c)。 这观察与最近的工作5是基本上 (一致的) Si阶段是identied当ne针在SiC微粒物质表面由SEM。
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2013-05-23 12:26:38
图 2 (a) 中的箭头所示的尖晶石涂层上有附加层。后略有倾斜的透射电镜样品，以提高对比度，进一步在图 4 (a) 这一地区被放大。此附加层和其他孤立的粒子，如图 4 (a)，在箭头所示是能识别出作为 Si 阶段，按图 4 (b) 中的电子束 di 相互作用模式和 XEDS 谱在图 4 (c) 所示。这一观察是基本上一致的 Si 阶段作为 ne SEM.SiC 粒子表面上的针是能识别出的最近工作 [5]
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2013-05-23 12:28:18
如以在无花果中的一支箭表示。2(a)，在 spinel 层上有其他的层。这个地区在无花果进一步被放大。4(a) 轻视 TEM 例子的翘起提高对照后。这其他的层和其他隔离的微粒，如以在无花果中的箭头表示。4(a)，被 identied 作为 Si 阶段，如显示在电子旁边二？在无花果中的比赛模式。4(b) 和在无花果中的 XEDS 范围。4(c).这观察是具 的基本一致 最近的 工作 (5) 那 Si 阶段被 identied 由于东北在表面上通过 SEM SiC 微粒的缝纫。
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