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  • 匿名
关注：1 2013-05-23 12:21

求翻译：3.3.5 Defective wafers. All wafers that fail any test criteria shall be removed at the time of observation or immediately at是什么意思？

待解决 悬赏分：1 - 离问题结束还有
3.3.5 Defective wafers. All wafers that fail any test criteria shall be removed at the time of observation or immediately at
问题补充：
  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
3.3.5有缺陷的晶片。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
3.3.5瑕疵薄酥饼。发生故障所有检验判据的所有薄酥饼在观察时将被去除或立刻在
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
3.3.5瑕疵薄酥饼。 发生故障所有测试标准的所有薄酥饼在观察之时将被去除或立刻在
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
3.3.5 有缺陷的晶圆片。应删除失败任何测试标准的所有晶片，在时间的观察或立即在
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
3.3.5 不完全变化动词用干胶片封。没通过任何测试标准的所有晶片将在观察时被撤销或立即在
 
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