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  • 匿名
关注：1 2013-05-23 12:21

求翻译：3.3.1 General. This wafer lot acceptance procedure is based on wafer visual inspection and electrical testing of suitable是什么意思？

待解决 悬赏分：1 - 离问题结束还有
3.3.1 General. This wafer lot acceptance procedure is based on wafer visual inspection and electrical testing of suitable
问题补充：
  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
3.3.1一般。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
3.3.1将军。这薄酥饼全部接受程序根据薄酥饼视力检查和电子测试适当
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
3.3.1一般。 这个薄酥饼全部采纳做法根据薄酥饼视力检查和电子测试适当
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
3.3.1 一般。此晶片多验收程序基于硅片视觉检测试验和电气试验的合适
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
3.3.1 通则。这道晶片一批接受程序依据晶片视觉的检验和电测试合适
 
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