当前位置：首页 » 翻译 
  • 匿名
关注：1 2013-05-23 12:21

求翻译：measurements, verifying that the identified baseline parameters are within process limits, will be required from each wafer是什么意思？

待解决 悬赏分：1 - 离问题结束还有
measurements, verifying that the identified baseline parameters are within process limits, will be required from each wafer
问题补充：
  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
测量，验证所识别的基线参数内处理的限制，将需要从每个晶片
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
测量，核实辨认的基础线参量在处理极限内，从每个薄酥饼将需要
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
测量，核实辨认的基础线参量在处理极限内，从每个薄酥饼将需要
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
核实确定的基线参数在进程范围内的测量，将需要从每个晶片
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
度量法，验证被标识的底线参数在过程内限制，将从每个晶片需要
 
热门同步练习册答案
 
网站首页

湖北省互联网违法和不良信息举报平台 | 网上有害信息举报专区 | 电信诈骗举报专区 | 涉历史虚无主义有害信息举报专区 | 涉企侵权举报专区

 
关 闭