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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:We obtain the c-optimal test plans by minimizing the large-sample approximate variance of the maximum likelihood estimator of a certain life quantile at use condition. The method is illustrated by developing ALT plans for field-effect transistors with competing gate oxide breakdown.是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
We obtain the c-optimal test plans by minimizing the large-sample approximate variance of the maximum likelihood estimator of a certain life quantile at use condition. The method is illustrated by developing ALT plans for field-effect transistors with competing gate oxide breakdown.
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
我们得到了最大限度地减少使用条件有一定的生活位数的最大似然估计的大样本方差近似的C-最佳的测试计划。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
我们通过使某一生活分位点的最大概似法估计物的大样品近似变化减到最小得到c优选的实验计划在用途情况。方法是通过开发场效应晶体管的ALT计划说明的有竞争的门氧化物故障的。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
我们通过使某一生活分位点的最大可能性估计物的大样品近似变化减到最小得到c优选的实验计划在用途情况。 方法是通过开发ALT计划说明的为场效应晶体管以竞争的门氧化物故障。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
我们通过最小化某些生活分位数在使用条件下的最大似然估计的大样本近似方差获得 c-最优试验计划。通过发展与竞争的栅氧化层击穿场效应晶体管的 ALT 计划,说明了方法。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
我们获取 c-optimal 测试通过在使用条件将某个一生的 quantile 的最大可能性估计量的大例子大概的差异减到最少制定计划。方法被通过竞争为现场效果的晶体管制定 Alt 计划说明门氧化物故障。
 
 
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