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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:Is there a testing pattern or method to check Line defect due to Driver IC function failure effectively ?是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
Is there a testing pattern or method to check Line defect due to Driver IC function failure effectively ?
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
是否有一个测试的模式或方法来检查线路的缺陷,由于驱动IC的功能有效地失败呢?
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
有没有有效地检查线的测试图形卡或方法瑕疵由于司机集成电路作用失败?
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
有没有有效地检查线的一个测试图形卡或方法瑕疵由于司机集成电路作用失败?
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
有测试的模式或方法来检查驱动芯片功能衰竭行缺损有效吗?
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
在那里一种测验的模式或检查由于司机的线缺陷的方法 IC 功能故障有效地?
 
 
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