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2013-05-23 12:21
求翻译：The phases and microstructures were characterized using X-ray diffractometer (XRD, Philips PW1050, CuK), scanning electron microscope (SEM, Hitachi S3400N) accompanied with energy dispersive spectrometer and transmission electron microscope (TEM, JEOL 2010, 200 kV).是什么意思？ 待解决
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The phases and microstructures were characterized using X-ray diffractometer (XRD, Philips PW1050, CuK), scanning electron microscope (SEM, Hitachi S3400N) accompanied with energy dispersive spectrometer and transmission electron microscope (TEM, JEOL 2010, 200 kV).
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
使用X射线衍射仪的相位和结构进行了表征（XRD ，飞利浦PW1050 ， CuKα射线？ ），扫描电子显微镜（SEM ，日立S3400N ）伴随着能谱仪和透射电子显微镜（TEM ， JEOL 2010 ， 200千伏） 。
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2013-05-23 12:23:18
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2013-05-23 12:24:58
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2013-05-23 12:26:38
阶段和微观结构进行了表征使用 x 射线衍射仪 （XRD、 飞利浦 PW1050 CuK），扫描电子显微镜 （扫描电镜、 日立 S3400N） 伴有能量色散谱仪和透射电子显微镜 (TEM，2010 年日本电子，200 千伏）。
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2013-05-23 12:28:18
The phases and microstructures were characterized using X-ray diffractometer (XRD, Philips PW1050, CuK), scanning electron microscope (SEM, Hitachi S3400N) accompanied with energy dispersive spectrometer and transmission electron microscope (TEM, JEOL 2010, 200 kV).
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