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2013-05-23 12:21
求翻译：The microstructural analyses of the Ta-coated cross-sectioned samples were obtained using a Philips XL 40 FEG (Philips Electron Optics, The Netherlands) scanning electron microscope (SEM).是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
The microstructural analyses of the Ta-coated cross-sectioned samples were obtained using a Philips XL 40 FEG (Philips Electron Optics, The Netherlands) scanning electron microscope (SEM).
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
使用飞利浦XL 40 FEG （飞利浦电子光学，荷兰）扫描电子显微镜（SEM）得到的钽涂覆横截面样品的微结构的分析。
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2013-05-23 12:23:18
使用飞利浦XL 40 FEG (飞利浦电子光学，荷兰)扫描电子显微镜(SEM)，对Ta上漆的跨被区分的样品的微结构分析得到了。
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2013-05-23 12:24:58
对Ta上漆的十字架被区分的样品的微结构分析使用Philips XL 40 FEG Philips (电子光学，荷兰扫描) 电子显微镜SEM (得到了)。
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2013-05-23 12:26:38
用飞利浦 XL 40 拉制荷兰飞利浦电子光学） 扫描电子显微镜 （SEM），获得了钽涂层的横截面样品的显微结构分析。
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2013-05-23 12:28:18
微结构分析 Ta 涂上一层分割成截面的例子中使用一飞利浦 XL 被获取 40 FEG( 飞利浦电子光学，荷兰 ) 扫描电子显微镜 (SEM)。
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