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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:This lower mobility, even with effective removal of mid-gap states through hydrogenation,arises due to the electronic defect states at the band edges of a-Si:H due to variations in Si-Si bond angle and length in the amorphous structure.是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
This lower mobility, even with effective removal of mid-gap states through hydrogenation,arises due to the electronic defect states at the band edges of a-Si:H due to variations in Si-Si bond angle and length in the amorphous structure.
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
这种较低的流动性,即使有效去除中间能隙通过氢化指出,出现由于电子缺陷态在的a-Si的频带边缘:H的变化导致的Si-Si键角和长度在非晶结构。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
这种低移动性,即使有效的去除中的国家差距通过氢化,由于产生的电子缺陷在带边的A-Si:H因si-si债券角度和长度在非晶结构。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
这更低的流动性,甚而以中间缺口状态有效的撤除通过加氢,出现由于电子瑕疵状态在Si带缘:H由于在SiSi键角上的变化和长度在无定形结构。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
这较低的流动性,即使有隙国家通过加氢处理、 有效去除产生带边缘的电子缺陷态-非晶硅珮键角的变化和无定形结构的长度。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
这更低的易变性,甚至随着差距中期的有效的删除陈述通过氢化作用,由于电子缺陷出现陈述在乐队 a-Si 的缓缓移动:由于在不规则的结构在 Si-Si 债券角和长度中的变化程度的 H。
 
 
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