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2013-05-23 12:21
求翻译：Characterization: The products were characterized by scanning electron microscopy (SEM, Hitachi S-4300F), transmission electron microscopy (TEM, JEM JEOL 2010), X-ray powder diffraction (XRD, Rigaku Dmax-rB diffractometer with CuKa radiation,k=0.1542 nm, 40 kV, 100 mA), Fourier transform IR (FTIR, Bruker Tensor™ 27), X是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
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Characterization: The products were characterized by scanning electron microscopy (SEM, Hitachi S-4300F), transmission electron microscopy (TEM, JEM JEOL 2010), X-ray powder diffraction (XRD, Rigaku Dmax-rB diffractometer with CuKa radiation,k=0.1542 nm, 40 kV, 100 mA), Fourier transform IR (FTIR, Bruker Tensor™ 27), X
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
特性：该产物通过扫描电子显微镜（SEM ，日立S- 430°F ），透射电子显微镜（TEM ， JEM JEOL 2010） ， X射线粉末衍射（XRD ，理学的Dmax -RB衍射用CuKα辐射中，k = 0.1542
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2013-05-23 12:23:18
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2013-05-23 12:24:58
描述特性： 产品描绘的是为尽快扫描 (电子显微镜术SEM、日立)S-4300F，传输 (电子显微镜术TEM， JEM JEOL) 2010年， X-射线粉末 (衍射XRD， Rigaku Dmax铷衍射计以CuKa辐射， k=0.1542 nm， 40千伏、100) mA，傅立叶变换 (IR FTIR， Bruker Tensor™) 27， X-射线光电子 (分光学XPS， VG ESCA-LAB) 220iXL和 (BETanalysis Micrometrics 2020年)。
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2013-05-23 12:26:38
表征： 产物进行了表征扫描电子显微镜 （扫描电镜、 日立 S-4300F）、 透射电子显微镜 (TEM、 正义与平等运动日本电子 2010年）、 x 射线粉末衍射法 （XRD、 利用 Dmax rB 衍射仪与 CuKa 辐射，k = 0.1542 毫微米，40 千伏，100 马），傅里叶变换红外光谱 （FTIR） 布鲁克张 ™ 27、 x 射线光电子能谱 （XPS，VG ESCA 实验室 220i-XL） 和 BETanalysis （Micrometrics 尽快 2020）。
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2013-05-23 12:28:18
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