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2013-05-23 12:21
求翻译：The morphology and size of the secondary particle of the samples were observed by scanning electron microscopy (SEM) using a JSM-5410LV. The morphology and size of the primary particles of samples were observed using a JEOL TEM-200cx transmission electron microscope operated at 100 kV.是什么意思？ 待解决
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The morphology and size of the secondary particle of the samples were observed by scanning electron microscopy (SEM) using a JSM-5410LV. The morphology and size of the primary particles of samples were observed using a JEOL TEM-200cx transmission electron microscope operated at 100 kV.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
样品的二次粒子的形态和大小进行了扫描用JSM- 5410LV电子显微镜（ SEM）观察。
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2013-05-23 12:23:18
的形态和大小的辅助粒子的观察了样品扫描电子显微镜(SEM)使用一个吉买 盛-5410 LV。 的形态和大小的颗粒的主要观察到的样品使用润焕tem200CX传输电子显微镜在100kV。
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2013-05-23 12:24:58
样品的次要微粒的形态学和大小通过扫描电子显微镜术观察 (SEM) 使用JSM-5410LV。 样品主要微粒的形态学和大小使用JEOL TEM-200cx传输电子显微镜被观察了被管理在100千伏。
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2013-05-23 12:26:38
用扫描电子显微镜 （SEM） 使用 JSM 5410LV 观察到的形态和大小的样品的二次粒子。样品的初级粒子大小与形态观察日本电子透射电镜-200cx 透射电镜操作在 100 千伏。
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2013-05-23 12:28:18
例子的辅助微粒的构词学和尺码被扫描电子显微镜方法观察 (SEM) 使用一 JSM-5410LV。例子的最初微粒的构词学和尺码使用以 100 千伏特被操纵的一台 JEOL TEM-200cx 传送电子显微镜观察。
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