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2013-05-23 12:21
求翻译：The latter was used to select only the elastic electrons for the HRTEM image formation. The cross-sectional TEM specimens were prepared by milling in a focused ion beam (FIB) system.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
The latter was used to select only the elastic electrons for the HRTEM image formation. The cross-sectional TEM specimens were prepared by milling in a focused ion beam (FIB) system.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
后者被用来只选择弹性电子的HRTEM图像形成。
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2013-05-23 12:23:18
后者则是用于选择的弹性仅为电子的HRTEM成像。 横截面tem样品准备的铣削在一个集中离子束(FIB)系统。
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2013-05-23 12:24:58
后者用于为HRTEM图象形成选择仅有弹性电子。 横截TEM标本通过碾碎准备在一个被聚焦的离子束 (小谎) 系统。
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2013-05-23 12:26:38
后者用来选择只弹性电子 HRTEM 图像形成。横断面透射电镜标本制得铣削中聚焦的离子束 (FIB) 系统。
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2013-05-23 12:28:18
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