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2013-05-23 12:21
求翻译：OI-Method of inspection abbreviation: HG = Height gauge, MIC = Micrometer, DC = Dial Caliper, P = Protractor, OC = Optical Comparator, CG = Checking OMM = Optical Coordinate Measuring Machine, HT = Hardness Trester, TG = Thickness Gauge, VIS = Visual, PG = Plug Gauge, Gauge, CMM = Coordinate Measuring Machine是什么意思？ 待解决
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OI-Method of inspection abbreviation: HG = Height gauge, MIC = Micrometer, DC = Dial Caliper, P = Protractor, OC = Optical Comparator, CG = Checking OMM = Optical Coordinate Measuring Machine, HT = Hardness Trester, TG = Thickness Gauge, VIS = Visual, PG = Plug Gauge, Gauge, CMM = Coordinate Measuring Machine
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
检查缩写OI-方法： HG =身高测量仪， MIC =千分尺， DC =带表卡尺，P =量角器， OC =光学比较， CG =检查OMM =光学三坐标测量机， HT =硬度Trester ， TG =测厚仪，
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2013-05-23 12:23:18
爱的方法检查缩写:Hg=高度尺、麦克风=千分尺、dc=表卡尺,P=量角器、业主立案法团=光盘比较器,CG=检查(OMM=光学坐标测量机、超线程(HT)=硬度trester、TG=厚度测量仪,对=可视,PG=塞尺,压力表,CMM=三坐标测量机
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2013-05-23 12:24:58
检查简称OI方法： HG =高度测量仪， MIC =测微表， DC =拨号盘轮尺， P =分度器， OC =光学比较器， CG =检查OMM =光学同等的测量机， HT =坚硬Trester， TG = Β测厚计，力=视觉，页=圆柱塞规，测量仪， CMM =座标测量机
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2013-05-23 12:26:38
OI 方法的检验缩写: HG = 高度规，MIC = 千分尺，直流 = 卡尺，P = 量角器，业主立案法团 = 光学比较仪，CG = 检查 OMM = 光学坐标测量机，HT = 硬度 Trester，TG = 测厚仪，VIS = 视觉、 PG = 塞规，规，三坐标测量机 = 坐标测量机
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2013-05-23 12:28:18
检验缩写的 OI 方法：汞 = 高度量规， MIC = 测微计， DC = 拨卡尺， P = 量角器， OC = 光学比较器， CG = 检查 OMM = 光学同等测量机器，此时 = Hardness Trester， TG = 厚度量规， VIS = 视觉， PG = 插入量规，量规， CMM = 同等测量机器
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