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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:More frequent probe cleaning will be required to avoid possible test pad damage from multiple ICT retests, as indicated in the figure 4.是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
More frequent probe cleaning will be required to avoid possible test pad damage from multiple ICT retests, as indicated in the figure 4.
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
更频繁的探针清洗将需要避免从多个信息通信复试可能的测试垫的损坏,如在图4中表示。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
更多常用探头清洁将需要避免可能的测试板损坏必修课从多个信息和通信技术,如图所示,在4。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
在表4将要求更加频繁的探针清洁避免可能的测试垫损伤从多ICT重测,如被表明。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
更频繁的探头清洗将需要避免可能的测试垫损害的多个信息和通信技术的复验,如图 4 所示。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
更经常调查清扫将被要求从多个 ICT 避免可能的测试垫损害重新测试,如表示在数字中 4。
 
 
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