|
关注：1
2013-05-23 12:21
求翻译：addresses the issue on lower ICT yield caused by probe contamination due to flux residue on via-test pads是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
addresses the issue on lower ICT yield caused by probe contamination due to flux residue on via-test pads
问题补充： |
|
2013-05-23 12:21:38
地址较低ICT产量的问题所造成的污染探头，由于经由测试垫助焊剂残留
|
|
2013-05-23 12:23:18
解决这一问题的较低造成信息和通信技术产生的污染,因为探测器,通过助焊剂残留物的检测电极
|
|
2013-05-23 12:24:58
在探针污秽造成的更低的ICT出产量在通过测试垫论及问题由于涨潮残滓
|
|
2013-05-23 12:26:38
解决了由于通过测试垫上的焊剂残渣探头污染所造成的信息和通信技术产量低的问题
|
|
2013-05-23 12:28:18
在更低的 ICT 产量上处理问题在 via 测试的垫上由于变迁残留物由调查污染造成
|
湖北省互联网违法和不良信息举报平台 | 网上有害信息举报专区 | 电信诈骗举报专区 | 涉历史虚无主义有害信息举报专区 | 涉企侵权举报专区
