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2013-05-23 12:21
求翻译：Sometimes this ringing will be harmless; for example, it may occur after the gate voltage has reached its steady-state voltage for the period, and then it has little impact on performance. On the other hand, it may be a very significant source of dissipation in the MOSFET, to the point where the MOSFET might fail becaus是什么意思？ 待解决
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- 离问题结束还有
Sometimes this ringing will be harmless; for example, it may occur after the gate voltage has reached its steady-state voltage for the period, and then it has little impact on performance. On the other hand, it may be a very significant source of dissipation in the MOSFET, to the point where the MOSFET might fail becaus
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
有时，这种振荡会是无害的;
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2013-05-23 12:23:18
有时这种振铃将无害的;例如,它可能发生在门电压已达到其稳定状态期间的电压,然后它会对性能几乎没有什么影响。 另一方面,它可能是一个十分显著增强源消耗的金属氧化物半导体场效应晶体管,这点可能会失败,因为金属氧化物半导体场效应晶体管的:如果将铃声之后,便会出现MOSFET关闭,而振铃振幅足够大,定期打开MOSFET在这状态。
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2013-05-23 12:24:58
有时敲响的这将是无害的; 例如，它也许发生，在门电压到达了它的稳定电压为期间之后，它然后有对表现的一点冲击。 另一方面，它在MOSFET也许是散逸的一个非常signifi伪善言辞来源，对点由于它， MOSFET也许无法： 如果敲响发生，在MOSFET被关闭之后和敲响的高度是足够大周期性地起动MOSFET在此期间off-state。
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2013-05-23 12:26:38
有时这响将无害;例如，它可能会发生后栅极电压已达到其稳态电压期间，然后它对性能的影响甚微。另一方面，它可能是耗散的 MOSFET，到哪里 MOSFET 可能会失败这点很明显来源: 如果铃声 MOSFET 已关闭，并且铃声幅值足够大，以在此关状态期间定期打开 MOSFET 之后发生。
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2013-05-23 12:28:18
有时这响起来将是无害的；例如，门电压为句号达到了其稳态电压后可能发生，然后它不对表现有影响。另一方面可能是很 signi？在 MOSFET 的耗散的隐语来源，切题地哪里 MOSFET 可能失败因为它：如果响起来发生在 MOSFET 之后被关闭，以及包围宽阔足够大以定期在这期间打开 MOSFET 萧条州。
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