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  • 匿名
关注：1 2013-05-23 12:21

求翻译：The pin short phenomenon was normally associated with an EOS event. Below is a typical EOS damage on die surface related with pin short phenomenon.是什么意思？

待解决 悬赏分：1 - 离问题结束还有
The pin short phenomenon was normally associated with an EOS event. Below is a typical EOS damage on die surface related with pin short phenomenon.
问题补充：
  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
null
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
该引脚短的现象通常是与 EOS 的事件。 下面是典型的 EOS 损坏管芯表面与引脚短的现象。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
别针短小现象通常同EOS事件联系在一起。 下面是典型的EOS损伤在模子表面关系以别针短小现象。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
Pin 短现象是通常与 EOS 事件关联。下面是典型的 EOS 损伤模具表面与针短现象有关。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
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