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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:掃描式電子顯微鏡(SEM)觀察薄膜表面,如圖五示可清楚看到銅晶格的邊界,在底層淺灰色背景,存在的非均勻暗區的部分,其中銅表面處理的步驟時,由於高溫下的基板表面的重建可以清楚看見,由於石墨烯層的數量也決定了不同區域的亮度,由於較低的電子吸收,薄膜越薄,顏色越亮,暗區域可能是由幾個因素的影響,如碳含量或基板結構等因素。是什么意思?

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掃描式電子顯微鏡(SEM)觀察薄膜表面,如圖五示可清楚看到銅晶格的邊界,在底層淺灰色背景,存在的非均勻暗區的部分,其中銅表面處理的步驟時,由於高溫下的基板表面的重建可以清楚看見,由於石墨烯層的數量也決定了不同區域的亮度,由於較低的電子吸收,薄膜越薄,顏色越亮,暗區域可能是由幾個因素的影響,如碳含量或基板結構等因素。
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
null
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
Scan-電子顯微鏡 (SEM) observation membrane surface, as shown in Figure 5 below to clearly see copper chipset in the boundary, the underlying light gray background, a non-uniform dark areas section, where copper surface processing steps, due to heat the base plate surface of rebuild can clearly visible, s
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
The scanning type electron microscope( SEM) observation thin film surface, like Figure five shows may see the copper crystal lattice clearly the boundary, when first floor French grey background, existence inhomogeneous dark area part, in which copper surface treatment step, because under the high t
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
Scan type electronic microscope (SEM) observation film surface, as figure five shows can clear see copper lattice of border, in bottom shallow grey background, exists of non-uniform dark district of part, which copper surface processing of steps Shi, due to high temperature Xia of base board surface
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
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