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2013-05-23 12:21
求翻译：A more-planar schlieren PIV measurement can be obtained through the use of focusing schlieren optics which visualize schlieren disturbances only within a limited depth-of-field. The use of focusing optics complicates issues such as turbulent intermittency, illumination requirements, and schlieren sensitivity requiremen是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
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A more-planar schlieren PIV measurement can be obtained through the use of focusing schlieren optics which visualize schlieren disturbances only within a limited depth-of-field. The use of focusing optics complicates issues such as turbulent intermittency, illumination requirements, and schlieren sensitivity requiremen
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
null
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2013-05-23 12:23:18
有更多的平板schlieren PIV测量可通过使用集中schlieren,光学schlieren形象化的骚乱只能在有限深度的字段。 使用集中的光学问题复杂化如动荡中断进行弥补、照明要求、灵敏度schlieren要求,但是。 这一主题是更彻底的调查在其他地方。
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2013-05-23 12:24:58
更多平面schlieren PIV测量可以通过对聚焦的用途获得schlieren形象化schlieren仅干扰在一个有限的深度领域之内的光学。 对聚焦光学的然而用途使问题例如动荡intermittency，照明要求复杂化，并且schlieren敏感性要求。 这个题目在别处更加周到地被调查。
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2013-05-23 12:26:38
更多平面纹 PIV 测量可以获得使用聚焦的纹影光学系统的可视化纹影干扰只在有限的领域深度。使用聚焦光学系统然而复杂湍流间歇性、 光照的要求和纹影灵敏度要求等问题。本主题是更彻底调查其他地方。
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2013-05-23 12:28:18
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