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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:Temperature differences between any of the reference or sample wafers,during calibration or measurement,or both, will introduce a measurement error in Method II.是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
Temperature differences between any of the reference or sample wafers,during calibration or measurement,or both, will introduce a measurement error in Method II.
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
null
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
温度之间有任何分歧的参考或样品的晶片,在校准或测量,或两者都会引入测量误差的方法二。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
在任何参考或样品薄酥饼之间的温度区别,在定标或测量期间或者两个,在方法II.将介绍一个计量误差。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
任何引用或样品的晶片,在校准或测量,或两者之间的温度差异将介绍方法二中的测量误差。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
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