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2013-05-23 12:21
求翻译：Sub-nanometer resolution LCPD has also been observed on a variety of semiconductor surfaces including: Si [19], [20], [24], [26], [37] and [38], TiO2 [16], [22] and [39], InSb [23]. Fig. 10 shows simultaneously obtained CPD and topography images of InAs(001)-(4×2) surface using FM mode KPFM (note that the experimental 是什么意思？ 待解决
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Sub-nanometer resolution LCPD has also been observed on a variety of semiconductor surfaces including: Si [19], [20], [24], [26], [37] and [38], TiO2 [16], [22] and [39], InSb [23]. Fig. 10 shows simultaneously obtained CPD and topography images of InAs(001)-(4×2) surface using FM mode KPFM (note that the experimental
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2013-05-23 12:21:38
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2013-05-23 12:23:18
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2013-05-23 12:24:58
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2013-05-23 12:26:38
一种分辨率 LCPD 也观察各种半导体表面，包括： [37] [26]，[24]，[20]，[19]，硅和 [38]，TiO2 [16]，[22] 和 [39]，铟 [23]。图 10 显示了使用调频模式 （图 10 中的实验结果，由作者注) KPFM InAs(001)-(4×2) 表面的同时获得持续进修及地形图像。InAs(001)-(4×2) 具有行槽结构组成的行的原子和二聚体位于 [40] 槽中的对中。槽地区有 LCPD 的山峰。海槽的膨化的聚很可能引起 LCPD 槽中。LCPD 峰指示 tip–sample 互动中的发生了更改。
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2013-05-23 12:28:18
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