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关注：1
2013-05-23 12:21
求翻译：Among these reliability mechanisms,the NBTI-stress impact on PMOSFETs and the HCI-stress impact on NMOSFETs have become a major reliability concern in digital circuit design.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Among these reliability mechanisms,the NBTI-stress impact on PMOSFETs and the HCI-stress impact on NMOSFETs have become a major reliability concern in digital circuit design.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
其中可靠性机制，pMOS与HCI应力影响在减小面积的NBTI应力的影响，已成为在数字电路设计的可靠性的关注。
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2013-05-23 12:23:18
这种可靠性机制之间,nbti讲影响pmosfets和hci-强调nmosfets已成为影响可靠性的主要关注的数字电路设计。
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2013-05-23 12:24:58
在这些可靠性机制之中， NBTI注重对PMOSFETs的冲击，并且HCI注重对NMOSFETs的冲击成为了主要可靠性关心在数字电路设计。
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2013-05-23 12:26:38
这些可靠性机制之间对泄漏的 NBTI 应力影响和效应的人机交互应力影响已成为数字电路设计中主要的可靠性问题的关注。
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2013-05-23 12:28:18
在这些可靠性机制，对 PMOSFETs 的 NBTI 压力的影响和对 NMOSFETs 的 HCI 压力的影响中成为数字电路设计中的一个主要可靠性担忧。
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