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2013-05-23 12:21
求翻译：As for the HCI stress, it is the result of electron trapping or interface-state generation induced by the impact ionization of channel carriers near the drain region and causes the degradation of the electrical parameters of a是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
As for the HCI stress, it is the result of electron trapping or interface-state generation induced by the impact ionization of channel carriers near the drain region and causes the degradation of the electrical parameters of a
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
它如HCI压力，是电子俘获或诱导漏区附近的通道运营商的影响电离并导致退化的电气参数，接口状态产生的结果
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2013-05-23 12:23:18
hci的强调,正是由于电子诱捕或接口的状态所诱发的一代影响的附近发生电离通道运营商,导致退化的地区排放的一个电气参数。
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2013-05-23 12:24:58
关于HCI重音，它是结果渠道载体的碰撞电离或接口状态世代的导致的电子诱捕在流失区域附近并且导致a的电子参量的退化
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2013-05-23 12:26:38
人机交互应力，它是电子俘获的结果或接口状态代致近流失区通道载体的碰撞电离并导致的电气参数的退化
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2013-05-23 12:28:18
至于 HCI 压力，它是围困的电子或在排水地区附近被渠道承运人的影响电离促使的界面州的一代的结果和导致电参数的下降
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