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2013-05-23 12:21
求翻译：Fig. 1(b) shows the Vth-degradation of a stressed PMOS deviceunder long term AC operation conditions, in which the threshold voltage of the stressed PMOS device shifts up as the number of cycles in the stress signal increases是什么意思？ 待解决
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Fig. 1(b) shows the Vth-degradation of a stressed PMOS deviceunder long term AC operation conditions, in which the threshold voltage of the stressed PMOS device shifts up as the number of cycles in the stress signal increases
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
图1（b）显示一个强调PMOS deviceunder长期交流操作条件，其中预应力PMOS器件的阈值电压的变化周期在胁迫信号的增加VTH降解
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2013-05-23 12:23:18
图。 1(b)显示了vth试验过程更接近真实的退化的一个强调pmosdeviceunder长期交流电工作条件,强调的pmos器件的阈值电压变化的周期数,在强调增加信号
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2013-05-23 12:24:58
。 1 (b)显示被注重的PMOS deviceunder长的期限AC操作情况的Vth退化，被注重的PMOS设备门限电压转移，当周期的数量在重音信号增加
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2013-05-23 12:26:38
图 1 (b) 显示 Vth 降解的强调 PMOS deviceunder 长期交流操作条件，其中强调 PMOS 设备的阈值电压移作为胁迫信号中周期数增加
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2013-05-23 12:28:18
无花果。1(b) 向一被强调的 PMOS deviceunder 的 Vth 下降展示长 条款 AC 操作条件，其中被强调的 PMOS 设备的阈值电压向上转换由于压力信号中的周期数量增加
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