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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:Use SEM to find does any abnormity on IC leads after our processes.是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
Use SEM to find does any abnormity on IC leads after our processes.
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
利用扫描电镜发现确实对IC引线任何异常我们的流程之后。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
用途SEM发现在我们的过程以后做在集成电路主角的所有反常的情况。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
使用SEM发现在我们的过程以后做所有反常的情况在集成电路主角。
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
利用扫描电镜找到后我们的流程做任何异形 IC 的线索。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
使用 SEM 找到在 IC 做任何 abnormity 在我们的过程之后导致。
 
 
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