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2013-05-23 12:21
求翻译：Determination of composition of layer used in semiconductor substrate manufacture by oxidizing main surface of layer, measuring oxide layer thickness, and determining concentration of element whose concentration is related to oxidation rate是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
Determination of composition of layer used in semiconductor substrate manufacture by oxidizing main surface of layer, measuring oxide layer thickness, and determining concentration of element whose concentration is related to oxidation rate
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
测定通过氧化层的主表面上，测量的氧化层的厚度，并确定元素，其浓度与氧化速率的浓度用在半导体基片的制造层的组成
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2013-05-23 12:23:18
用于半导体基体制造的层的构成的决心通过氧化层，测量的氧化物层数厚度和确定集中与氧化作用率有关元素的集中主要表面
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2013-05-23 12:24:58
用于半导体基体制造的层的构成的决心通过氧化层，测量的氧化物层数厚度和确定集中与氧化作用率有关元素的集中主要表面
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2013-05-23 12:26:38
由氧化层的主要表面，测量氧化层厚度，和元素的浓度有关的氧化率的浓度测定的半导体基板制造中使用的图层组成的测定
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2013-05-23 12:28:18
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