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2013-05-23 12:21
求翻译：These tests shall be designed such that eac h circuit element within the microcircuit is stressed by an applied voltage which appr oaches or exceeds the breakdown voltage of the circuit element under test.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
These tests shall be designed such that eac h circuit element within the microcircuit is stressed by an applied voltage which appr oaches or exceeds the breakdown voltage of the circuit element under test.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
这些试验的设计应使得该微电路内EAC H电路元件通过施加电压而APPR oaches或超过被测电路元件的耐压压力。
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2013-05-23 12:23:18
这些测试将被设计这样eac h在微型电路内的环道元由appr oaches或超出环道元击穿电压在测试下的应用的电压强调。
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2013-05-23 12:24:58
这些测试将被设计这样eac h环道元在微型电路之内由appr oaches或超出环道元击穿电压在测试之下的应用的电压强调。
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2013-05-23 12:26:38
这些测试的设计应这样 eac h 电路电路内的元素是哪个分系统瓦凯什强调通过应用电压或超过击穿电压的电路元件测试下。
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2013-05-23 12:28:18
这些测试将被设计，以便微电路中的 eac h 电路元素被应用电压强调那 appr oaches 或超过 在测试下的电路元素的故障电压。
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