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2013-05-23 12:21
求翻译：These tests shall be designed such that each circuit element within the microcircuit is stressed by an applied voltage which appr oaches or exceeds the breakdown voltage of the circuit element under test.是什么意思？ 待解决
 悬赏分：1
- 离问题结束还有
These tests shall be designed such that each circuit element within the microcircuit is stressed by an applied voltage which appr oaches or exceeds the breakdown voltage of the circuit element under test.
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
这些试验的设计应使得该微电路中的每个电路元件通过施加电压而APPR oaches或超过被测电路元件的耐压压力。
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2013-05-23 12:23:18
这些测试将被设计这样在微型电路内的每环道元由appr oaches或超出环道元击穿电压在测试下的应用的电压强调。
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2013-05-23 12:24:58
这些测试将被设计这样每环道元在微型电路之内由appr oaches或超出环道元击穿电压在测试之下的应用的电压强调。
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2013-05-23 12:26:38
应设计这些测试，这样每个电路元件内微电路是强调通过应用电压的分系统瓦凯什或超过击穿电压的电路元件测试下。
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2013-05-23 12:28:18
这些测试将被设计，以便微电路中的每个电路元素被应用电压强调那 appr oaches 或超过 在测试下的电路元素的故障电压。
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