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2013-05-23 12:21
求翻译：We are now facing random shot color change issue when we run 100 wafers acceptance test for negative 2x1 PSS. Customer inspected 75 wafers, and they found 2 wafers with random shot color change. The wafer TI R were measured, and the result is within the spec (TIR是什么意思？ 待解决
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- 离问题结束还有
We are now facing random shot color change issue when we run 100 wafers acceptance test for negative 2x1 PSS. Customer inspected 75 wafers, and they found 2 wafers with random shot color change. The wafer TI R were measured, and the result is within the spec (TIR
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
我们现在面临的随机拍摄的颜色变化问题，当我们运行100晶圆验收测试负2X1 PSS 。
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2013-05-23 12:23:18
当我们进行100个薄酥饼消极2x1的PSS时，验收我们现在面对任意射击颜色变动问题。顾客检查了75个薄酥饼，并且他们发现了与任意射击颜色变动的2个薄酥饼。薄酥饼钛R被测量了，并且结果在spec (TIR <3um)内。检查spec是没有颜色变动，因此我们不可能通过采纳。我希望升级问题，我附有了M V， P P，印刷品显示器数据，用户配置文件供您的参考。
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2013-05-23 12:24:58
当我们进行100个薄酥饼验收试验为消极2x1 PSS时，我们现在面对任意射击颜色变动问题。 顾客检查了75个薄酥饼，并且他们发现了2个薄酥饼与任意射击颜色变动。 薄酥饼钛R被测量了，并且结果在spec (TIR <3um之内)。 检查spec是没有颜色变动，因此我们不可能通过采纳。 我希望升级问题，我附有了M V， P P，印刷品显示器数据，用户配置文件作为您的参考。 诚恳地喜欢提供所有指南可能帮助解决问题。
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2013-05-23 12:26:38
正在翻译，请等待...
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2013-05-23 12:28:18
我们如今在面对随便被射死的颜色在我们开 100 个晶片时更改问题对于负面 2x1 PS 的验收检验。客户检查 75 个晶片，他们以随便被射死的颜色发现 2 个晶片改变。晶片铁树 R 被测量，以及结果在 spec 内 (TIR <3um)。检验 spec 不是颜色改变，所以我们不可以通过接受。在这里我想要使问题逐步上升，我附加 M V， P P，打印显示器数据，对于你的参考的用户配置文件。请亲切地提供任何指导方针可以有助于解决问题。
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