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  • 匿名
关注:1 2013-05-23 12:21

求翻译:We inspected the wafer under microscope for blind stepping. We could see vertical white line and very slight horizontal white line. The very slight horizontal white line looks acceptable, but the vertical white line may need to optimize. We measured the blindstep offset for the vertical white line, the offset is ~0.15 是什么意思?

待解决 悬赏分:1 - 离问题结束还有
We inspected the wafer under microscope for blind stepping. We could see vertical white line and very slight horizontal white line. The very slight horizontal white line looks acceptable, but the vertical white line may need to optimize. We measured the blindstep offset for the vertical white line, the offset is ~0.15
问题补充:

  • 匿名
2013-05-23 12:21:38
我们考察了晶圆显微镜下盲步进。
  • 匿名
2013-05-23 12:23:18
我们检查了薄酥饼在显微镜下盲目跨步。我们可能看垂直的空白线路和非常轻微的水平的空白线路。非常轻微的水平的空白线路看起来可接受,但是垂直的空白线路也许需要优选。我们测量了为垂直的空白线路抵消的blindstep,垂距是~0.15 um。我们将设法修改工作文件的步地点优选它。
  • 匿名
2013-05-23 12:24:58
我们检查了薄酥饼在显微镜下盲目跨步。 我们可能看垂直的空白线路和非常轻微的水平的空白线路。 非常轻微的水平的空白线路看起来可接受,但垂直的空白线路也许需要优选。 We measured the blindstep offset for the vertical white line, the offset is ~0.15 um. We will try to modify the step location in job file to optimize it.
  • 匿名
2013-05-23 12:26:38
我们检查镜盲步进硅片。我们可以看到垂直的白色线条和非常轻微的水平白线。很轻微的水平白线看起来可以接受的但垂直的白色线条可能需要优化。我们测量了垂直的白色线条的 blindstep 偏移量,偏移量是 ~0.15 um。我们将尝试修改的工作文件,以优化它的步位置。
  • 匿名
2013-05-23 12:28:18
我们为窗帘在显微镜下检查晶片迈步。我们可以看垂直白色线和很少许水平白色线。这非常少许水平白色线看起来可接受的,但是垂直白色线可能需要优化。我们为垂直白色线测量 blindstep 分支,分支是 ~ 0.15 嗯。我们将尝试在优化它的工作文件中修改步的位置。
 
 
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