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2013-05-23 12:21
求翻译：This was confirmed by transmission electron microscopy (TEM), atomicforce microscopy (AFM), Fourier transform infrared spectros-copy (FT-IR spectra), X-ray diffraction spectroscopy (XRD),and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (see the Supporting Information, Figures S1−S5).是什么意思？ 待解决
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This was confirmed by transmission electron microscopy (TEM), atomicforce microscopy (AFM), Fourier transform infrared spectros-copy (FT-IR spectra), X-ray diffraction spectroscopy (XRD),and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (see the Supporting Information, Figures S1−S5).
问题补充： |
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2013-05-23 12:21:38
这是通过透射电子显微镜（TEM） ， atomicforce显微镜（AFM）证实，傅立叶变换红外spectros拷贝（FT-IR光谱） ， X射线衍射光谱（ XRD）和X射线光电子能谱（XPS ）（见
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2013-05-23 12:23:18
这一点已得到证实,传输电子显微镜(TEM),atomicforce显微镜(AFM)、傅里叶变换红外spectros-copy(FT-IR光谱),X射线衍射光谱学(xrd)和X射线光电子光谱学(XPS)(请参阅支持信息、数字S1-S5)。
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2013-05-23 12:24:58
这由传输电子显微镜术TEM (，) atomicforce显微学AFM (，)傅立叶变换红外分光学FT-IR (光谱，) X-射线衍射分光学XRD (证实)，并且X-射线光电子分光学 (XPS) (看支持信息，图S1−S5)。
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2013-05-23 12:26:38
这证实了透射电镜 （TEM）、 atomicforce 显微镜 （AFM）、 傅里叶变换红外-绝对零度 （ft-ir）、 光谱 x-射线衍射 （XRD） 和 x 射线光电子能谱 （XPS） （请参见支持的信息，数字 S1−S5)。
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2013-05-23 12:28:18
这被传送电子显微镜方法确认 (TEM)， atomicforce 显微镜方法 (AFM)， Fourier 转换红外线 spectros 复件 (FT 非光谱 )， X 射线衍射 spectroscopy(XRD)， X 射线光电子 spectroscopy(XPS)( 看支持信息，数字 S1-S5 )。
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